Joint Test Action Group

Joint Test Action Group je standard definovaný normou IEEE 1149.1, tzv. Standard Test Access Port (TAP). Jedná se o architekturu Boundary-Scan pro testování plošných spojů, programování FLASH pamětí apod.

Signály rozhraní
  1. TDI (Test Data In)
  2. TDO (Test Data Out)
  3. TCK (Test ClocK)
  4. TMS (Test Mode Select)
  5. TRST (Test ReSeT) – volitelný

Data jsou přenášena sériově.

JTAG Konektory
JTAG Rozhraní ViaTAP

Přestože je JTAG standardizovaný, konektory na připojení JTAG adaptéru nikoliv. Většina výrobců používá vlastní pinout, přičemž je většinou použit "pinheader" s roztečí 2,54 mm (0,1 palce). Obecně se napříč mezi výrobci rozšířilo jen pár zapojení JTAGu (zejména MIPS EJTAG, ARM JTAG) [1].

Použití

JTAG je možné použít kromě primárního účelu, kterým je testování plošných spojů a interní funkce obvodů, také k programování flash pamětí, procesorů, FPGA, CPLD a dalších. K tomuto bylo vytvořeno několik standardů, např. IEEE 1532, JEDEC STAPL, nebo nestandardizovaný, ale hodně používaný Serial Vector Format [2].

Reference
  1. JTAG Pinouts [online]. Dostupné online.
  2. PLD File Formats [online]. Dostupné online.

Externí odkazy
This article is issued from Wikipedia. The text is licensed under Creative Commons - Attribution - Sharealike. Additional terms may apply for the media files.